[ENG]
СФ ФИАН
Самарский филиал Федерального государственного бюджетного учреждения науки Физического института им. П.Н. Лебедева Российской академии наук
Филиал
Новости
О филиале
Сотрудники
Документы
История
О В.А. Катулине
Фотографии разных лет
Видеозаписи
Библиотека
Структура
Структура филиала
Дирекция
Лаборатория когерентной оптики
Лаборатория лазерно-индуцированных процессов
Лаборатория физико-химической кинетики
Теоретический сектор
Центр лабораторной астрофизики
НАУЧНАЯ ДЕЯТЕЛЬНОСТЬ
Ученый совет
Семинар
Публикации
Патенты
Оборудование
Разработки
Монографии
Образование
Сотрудничество с вузами
SPIE Samara Student Chapter
Конкурс-конференция
экскурсии по лабораториям
СМИ о нас
Контакты
Система технологического контроля дорожек качения колец шарикоподшипников

Система технологического контроля дорожек качения колец шарикоподшипников создана в СФ ФИАН, в рамках инициативного проекта, в 1996 г. на основе "Автоматизированного рабочего места контролера внутренних колец шарикоподшипников", внедренного на ГПЗ-4 (г. Самара) в 1989 г. По сравнению с прототипом, система отличается применением в ней современных технических средств: полупроводникового лазера, компьютера IBM PC AT.
Система предназначена для автоматизации операций контроля качества поверхностей беговых дорожек внутренних колец подшипников с целью обнаружения микродефектов и дефектов отклонения формы. Используемый в устройстве когерентно-оптический способ контроля относится к комбинации рефлектометрического и триангуляционного оптических методов. Для получения измерительной информации используется зеркальная компонента структурированного пучка света, отраженного от контролируемого объекта.
Как и в прототипе, источник излучения содержит в себе дифракционную решетку Даммана, а в приемной части схемы использован линейный ПЗС.
Система оснащена компьютером, выполняющим функции управления его работой и диалога с пользователем. Система содержит несколько сменных оптико-механических блоков, адаптированных к конкретным типоразмерам деталей. Возможна одновременная работа системы в автоматическом режиме под управлением компьютера с количеством сменных блоков до 4-х включительно. В функции системы также входит выборочный контроль деталей с представлением информации на мониторе, а также тесты и статистический анализ сигналов.
Система имеет графический интерфейс с пользователем и дополнительные возможности: архивирование данных, демонстрационный режим работы с автоматическим показом последовательно всех функций системы.


Основные технические характеристики:

1. Диапазон размеров контролируемых поверхностей:
диаметр от 15 до 25 мм;
ширина до 4,2 мм;
радиус кривизны - от 2,5 до 3 мм.
2. Размер микродефектов, которые должны быть обнаружены 40 мкм и более.
3. Отклонения от круглости, которые выявляются системой, имеют амплитуду 0,4 мкм и более.
4. Время контроля одной детали в автоматическом режиме 1,8 сек.
На рис.2 и 3 показана топограмма дорожки качения кольца шарикоподшипника типа 201 при контроле локальных микродефектов и отклонений от круглости.


Рис.1. Оптико-механический блок системы: в лоток загружены контролируемые подшипниковые кольца диаметром 18,5 мм


Рис.2. Визуальный контроль микродефектов


Рис.3. Визуальная диагностика геометрии:
гранность 0,4 мкм


Контакты:

В.Г. Волостников coherent@fian.smr.ru;
Физический институт им. П.Н. Лебедева, Самарский филиал.