[ENG]
СФ ФИАН
Самарский филиал Федерального государственного бюджетного учреждения науки Физического института им. П.Н. Лебедева Российской академии наук
Филиал
Новости
О филиале
Сотрудники
Документы
История
О В.А. Катулине
Награды и отличия
Фотографии разных лет
Видеозаписи
Библиотека
Структура
Структура филиала
Дирекция
Лаборатория когерентной оптики
Лаборатория лазерно-индуцированных процессов
Лаборатория физико-химической кинетики
Теоретический сектор
Центр лабораторной астрофизики
НАУЧНАЯ ДЕЯТЕЛЬНОСТЬ
Ученый совет
Семинар
Публикации
Патенты
Оборудование
Разработки
Монографии
Основные результаты
Образование
Сотрудничество с вузами
SPIE Samara Student Chapter
Конкурс-конференция
экскурсии по лабораториям
СМИ о нас
Контакты
Исследование рельефа поверхности материалов на сканирующем мультимикроскопе СММ-2000

Зондовая микроскопия позволяет анализировать с атомным разрешением структуру самых различных материалов. Одним из приборов, позволяющих проводить подобные исследования, является сканирующий мультимикроскоп СММ-2000. Мультимикроскоп предназначен для исследования морфологии поверхности образцов в двух режимах: в режиме СТМ - сканирующего туннельного микроскопа, и в режиме АСМ - атомно-силового микроскопа. В СФ ФИАН сканирующий мультимикроскоп используется для исследования поверхности полимеров, кристаллических материалов, плёнок, композиционных материалов, нанопорошков.
ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ:
химический катализ
органическая химия
полупроводниковая электроника
оптика
лазерные технологии
авиационная и ракетная техника
химические технологии

Поверхность титановой фольги после лазерной обработки. 2D и 3D изображения. Разрешение 28.6 нм
Поверхность плёнки Ho2O3 после травления.
Разрешение 3.5 нм
Фрагмент углерод-углеродного композита, обработанного лазерным излучением. Разрешение 58 нм
Поверхность плёнки VO после травления. Разрешение 1.8 нм



Поверхность кремниевого зеркала.
Разрешение 7.4 нм


Оксидная плёнка на поверхности титановой фольги.
Разрешение 3.5 нм

Поверхность прессованного полимера ПВДФ, спечённого в электропечи. Разрешение 15.2 нм

Контакты:

Е.Н. Хавдей havdei@fian.smr.ru;
Физический институт им. П.Н. Лебедева, Самарский филиал.